तनन परीक्षण मशीन का मापन सिद्धांत

1. तनन परीक्षण मशीन का बल मान बल सेंसर, एम्पलीफायर और डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम के माध्यम से मापा जाता है। डेटा यांत्रिकी के अनुसार, छोटे विरूपण के आधार के तहत, लोचदार तत्व के एक निश्चित बिंदु पर तनाव ε लोचदार तत्व पर बल के सीधे आनुपातिक होता है और लोचदार तत्व के विरूपण के लिए भी। उदाहरण के तौर पर एस-टाइप टेस्टिंग मशीन के सेंसर को लें, जब सेंसर तनाव पी के प्रभाव के अधीन होता है, क्योंकि लोचदार तत्व को सतह पर एक तनाव गेज के साथ चिपकाया जाता है, और लोचदार तत्व का तनाव प्रत्यक्ष अनुपात में होता है बाहरी बल P के आकार के लिए, इसलिए स्ट्रेन गेज को मापने वाले सर्किट में कनेक्ट करें, फिर इसके आउटपुट वोल्टेज को मापें, और फिर बल के आकार को मापें।
2. विरूपण माप स्थापना के माध्यम से विरूपण को मापा जाता है, जिसका उपयोग प्रयोग प्रक्रिया के दौरान नमूने के विरूपण को मापने के लिए किया जाता है। स्थापना पर दो कॉललेट हैं, जो प्राथमिक मेमोरी हेड संरचना के माध्यम से माप स्थापना के शीर्ष पर स्थापित फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर से जुड़े हैं। जब दो कॉललेट्स के बीच का अंतराल बदलता है, तो फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर के शाफ्ट को घुमाने के लिए प्रेरित किया जाता है, और फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर में पल्स सिग्नल आउटपुट होगा। फिर सिग्नल को प्रोसेसर द्वारा संसाधित किया जाता है, और नमूने का विरूपण प्राप्त किया जा सकता है।
3. बीम विस्थापन माप का सिद्धांत मोटे तौर पर विरूपण माप के समान है। फोटोइलेक्ट्रिक एनकोडर के आउटपुट पल्स नंबर को मापकर बीम विस्थापन प्राप्त किया जाता है।